Benano180 Zeta Pro頂級奈米粒徑及界面電位分析儀 Nanoparticle Size and Zeta Potential Analyzer

產品簡介

BeNano 180 Zeta Pro奈米粒徑電位測試儀是承襲BeNano 90 Zeta奈米粒徑電位測試儀基礎上，再增加173度角(背向散射)檢測樣品顆粒布朗運動造成的散射光強隨時間的波動。BeNano 180 Zeta Pro同樣也集成了動態光散射(DLS)、電泳光散射(ELS)和靜態光散射(SLS)光學系統，用於檢測顆粒的粒徑、Zeta電位及分子量等等參數。

對於濃度較低之樣品，樣品顆粒散射效應較弱，那麼使用90度角檢測即可有極佳的檢測能力，但若對於濃度極高且散射效應非常強的樣品，使用173度角背向散射檢測樣品是較理想的，173度角檢測點固定在樣品池壁附近，雷射光束無需穿透樣品，可有效避免高濃度樣品的多重散射效應，確保高濃度範圍內粒徑結果的準確性和重複性。

此外，Benano系列奈米粒徑和zeta電位分析儀可與BAT-1自動滴定儀結合使用，BAT-1配備三個高精度滴定幫浦（精度為0.28μL）和一個磁力攪拌器，進行自動酸鹼滴定和測定等位電點 (IEP)。 夾管閥可在測量過程中關閉樣品迴路，效率高，滴定準確，重複性好，結果不受操作人員影響。 一次性樣品容器可避免樣品交叉污染。

產品特色

高性能硬體

• 固態雷射器- 高功率固態雷射，光束質量高，使用壽命長
• APD(雪崩二極體)偵測器- 對低濃度或弱散射樣品具有高靈敏度
• 溫度控制系統- 極廣的溫度範圍（-10~110℃）適合廣泛的應用要求
• 智能強度調節- 根據樣品的散射能力智能調節強度
• 靈敏的光纖檢測系統- 提供光學系統的高靈敏度，有效提高信噪比
• 173度角背向散射檢測光學- 適用於高濃度樣品並提供了更佳的靈敏度

研究級軟體

• 標準操作程序(SOP)- 確保參數的完整性和準確性
• 相位分析光散射Phase Analysis Light Scattering (PALS)- 低電泳遷移率和 zeta 電位的測量
• 智能結果計算方式- 智能估算和處理信號，消除隨機事件的影響
• 多種計算模式- 多種內置計算模式，覆蓋多個科研應用領域

多功能配件

• 毛細管微量樣品管-樣品體積低至 3-5 μL，大顆粒樣品測量精度更高
• 一次性毛細管樣品池-出色的 zeta 電位測量重複性並避免交叉污染

產品應用

• 學術和製造研發
• 化學工程材料
• 製藥
• 粒徑熱變化寬溫分析
• 食品和飲料
• 高階奈米級油墨或奈米顏料分析
• 生命科學，如蛋白質的熱性能粒徑分析

訂購資訊

• Benano180 Zeta Pro頂級奈米粒徑及界面電位分析儀
• BAT-1自動滴定儀(選購)