Bettersizer S3 Plus 頂級顯微雷射粒徑儀 Particle Size Analyzer

結合雷射繞射與顯微影像的粒徑分析儀

Bettersizer S3 Plus 顯微影像雷射粒徑分析分析儀，是本系列產品中的頂級機型。同時以雷射光散設法，與高速顯微攝影，精密分析樣品，以巨觀、微觀兩個面向，同步分析統計樣品粒度。如同高階的雷射粒徑分析儀，它有自動測試、自動對焦、自動進水、自動排水、自動消除氣泡、自動清洗，等等全自動功能。

巨觀、微觀測量同步進行

它在雷射散射法測量的基礎上，結合動態粒子影像的量測系統。系統包含兩個測試通道和一套循環分散系統，粒徑分佈和粒子形狀可以在同一時間進行同步分析實驗，同時透過影像分析可以驗證粒徑分析的結果，確保大粒徑測量的準確性，使大顆粒端的測量精度更高。基於 Bettersize 公司的獨家技術，將雷射法和顯微影像法的測量結果合併運算，而且顯微影像法，還可以提供粒形資訊，包含顆粒的長徑比及分佈、圓形度及分佈、顆粒影像等。

高階雷射光源

其雷射光散射的光學核心，採用 532nm 波長的偏振高級雷射光源，壽命大於25000小時。偵測器的部分，則是採用專利技術的單一光學雙鏡頭斜角入射光學測量系統 (Dual Lenses & Oblique Incidence Optical System, DLOIS)，搭配高精度的透鏡組，讓雷射散射光的偵測無死角，具有極高的解析度、成像清晰，畸變很小。

DLOIS 雙鏡頭偵測器，斜入式感測系統

電磁振動進樣

顯微影像系統的部分，採用電磁振動進樣系統，高亮度LED陣列光源，搭配小相差遠心鏡頭等先進硬體技術，在顆粒自由落下過程中隨機拍攝通過鏡頭的顆粒影像，在拍攝影像的同時電腦軟體對顆粒進行快速識別和處理，不會有殘影出現。在螢幕上即時顯示每個顆粒的影像和粒徑及粒形資料。由於採用每秒高達120幀的高速CCD，每分鐘能拍攝並處理幾萬個顆粒，除了不會有殘影的現象之外，影像處理軟體能自動判斷和提取粘著顆粒，大幅度提高分析速度、精度和準確性。

此外，當雷射光穿過介質，在微粒上形成散射的過程中，折射率的影響，會造成測量的誤差，尤其當樣品與介質的相對折射率很接近的情況 (跟需要使用高折射率的折射油，來配合測量寶石折射率才能測準的原理類似)。Bettersizer S3 Plus 頂級粒徑分析儀，除了以上提及的雷射散射、動態粒子影像測量，還加上了折射率的測量，經過獨家的演算法，排除介質折射率造成的測量誤差影響。

Bettersizer S3 Plus 頂級雷射粒徑分析儀，是目前市場上最為準確可靠、再現性好、操作簡便、測試速度快的雷射粒徑分析儀。它是集雷射技術、電腦技術、數位影像技術、光電子技術於一體的新代高性能的粒徑/粒形測試儀器。

產品特色

微粒分散

• 可靠的樣品循環分散系統
  
• 自動吸水技術、水位測量  
  
• 獨家準確性校正技術，每次測試均透過標準樣品的校正，確保儀器測試結果的準確性。
  
• 露點溫度測量技術，避免樣品池結露，在發生前，發出預警，改善測試條件
  
• 功能強大的操作軟體，包含多國語言(繁體中文)，並且可將測試結果輸出成Excel、Word或圖形格式，並可以根據個別需要，更樣式與添加建立使用者資訊
  

雷射粒徑分析

• 專利雙鏡頭偵測器斜角入射偵測技術 DLOIS
• 自動對焦技術

動態粒子影像分析

• 高精度遠心鏡頭，搭配高速 120 Frames/s CCD 影像偵測器
  
• 先進高速顆粒識別系統+多次讀出軟體技術(multireading technology)，每分鐘10000個粒子的高速影像處理，可同時截取和處理數據。  
  
• 採用雷射散射法精確測量微小顆粒，透過高精度顯微成像方法對大顆粒進行鑑定。  
  
• 粒徑形狀分析建立，包括粒徑分佈、最大粒徑、長徑比、圓形度、徑厚比。  

粒徑分析儀產品應用

研磨料、電池研發、奈米碳管、水泥、陶瓷、CMP泥漿、膠體、化妝品、肥料、調味料和香料、食品與飲料、壓裂砂 (頁岩油氣)、金屬粉末、牛奶聚集體、礦產、奈米粒子、保健品、製藥、藥物氣溶膠、顏料和油墨、聚電解質、聚合物和塑料、火力發電廠汙染、蛋白質、蛋白質聚集、道路塗染材料、冰雪粒度、土壤和沈積物、糖球、廢水處理、混凝土、醫藥微粒子分析儀。

訂購資訊

• Bettersizer S3 Plus 顯微影像雷射粒徑分析儀
• Bettersizer S3 雷射粒徑分析儀