奈米粒徑界面電位分析儀簡介

BeNano 90 Zeta奈米粒徑及界面電位測試儀，是Bettersize公司所推出新一代，用於測量奈米顆粒粒徑，及Zeta界面電位 (界達電位) 的光學檢測系統。BeNano 90 Zeta系統集成了動態光散射、電泳光散射和靜態光散射光學系統，用於檢測顆粒的粒徑、Zeta電位及分子量等等參數。

動態光散射粒徑儀

動態光散射DLS樣品分散在樣品池中，通過雷射照射到樣品上，光電檢測器在90°角檢測樣品顆粒布朗運動，所造成的散射光強隨時間的波動，再通過相關器進行自相關運算，得出樣品的光子自相關曲線。最後，結合數學方法，就可以得到顆粒的擴散係數，進一步利用斯托克斯-愛因斯坦方程式(Stokes-Einstein formula)，就得到樣品的粒徑和粒徑分佈結果。

BeNano 90 Zeta光學系統

Zeta電位的光散射測量原理

電泳光散射ELS

利用顆粒電泳運動，產生的散射光的都普勒頻移(Doppler Shift)，通過檢測分析原始的光學信號，得到顆粒的電泳運動速度資訊，由亨利方程建立起的顆粒電泳速度和Zeta電位的關係，最終得到顆粒在當前系統中，ZETA電位和ZETA電位分佈資訊。

靜態光散射SLS

則是通過檢測樣品的散射光強度，從而得到高分子、蛋白質等物質分子量資訊的光學技術。當雷射照射到大分子樣品溶液上，大分子會向各個方向發出散射光，通過在不同的濃度下檢測散射光強度，利用Debye曲線，外推得到樣品的絕對分子量和第二維里係數(B2 virial coefficient)。

BeNano 90 Zeta 界面電位儀搭配自動滴定儀

此外，材料的zeta電位值在很大程度上取決於分散介質，尤其是溶液的pH值，它不僅影響zeta電位的大小，而且還影響系統帶電粒子穩定性。BeNano系列奈米粒徑和Zeta電位分析儀，可與BAT-1自動滴定儀結合使用，BAT-1配備三個高精度滴定幫浦（精度為0.28μL）和一個磁力攪拌器，進行自動酸鹼滴定和測定等位電點 (IEP)。 夾管閥可在測量過程中關閉樣品迴路，效率高，滴定準確，重複性好，結果不受操作人員影響。 一次性樣品容器可避免樣品交叉污染。

BeNano奈米粒徑電位儀與BAT-1自動滴定儀聯用

BeNano 90 Zeta奈米粒徑及ZETA電位分析儀，是一種功能強大的動態光散射測量儀器，在化學化工，生物和醫藥領域具有廣泛的用途，其應用範圍覆蓋藥物釋放系統，微脂體，水凝膠，微乳液，乳液，高分子溶液，蛋白質樣品，奈米金顆粒等等。

BeNano 90 Zeta 動態光散射分析儀特色

• 高速測試能力 - 更快的測試速度，所有結果可以隨後可批量編輯處理
• 高性能固體雷射器光源 - 高功率、極佳的穩定性、長壽命、低維護
• 高性能APD檢測器 - 靈敏度極高，可以有效檢測極稀樣品和粒徑在亞奈米範圍內樣品
• 智能光源能量調節 - 根據信噪比，軟體智慧控制光源能量
• 光纖檢測系統 - 高靈敏度，有效增加信噪比
• 相位分析光散射 - 準確檢測低電泳遷移率樣品的Zeta電位
• 可拋棄毛細管電極 - 極佳的電位測試重複性，避免交叉污染
• 毛細管微量粒徑樣品池 - 3-5uL極微量樣品檢測，同時對於亞微米大顆粒提供更好的重複性和準確性
• 智慧結果判斷系統 - 智慧辨別信號品質、消除隨機事件影響
• 寬泛的溫度控制範圍 - (-10℃ - 110℃) 溫控滿足用戶測試需求
• 高穩定性設計 - 結果重複性極佳，不需日常光路維護
• 靈活的動態計算模式 - 多種計算模型選擇涵蓋科研和應用領域
• 可搭配自動滴定儀BAT-1使用(選購)

奈米粒徑界面電位分析儀功能

• 流體力學尺寸 Dh
• 分佈係數 PD.I
• 擴散係數 D
• 顆粒間相互作用力因數kD
• 顆粒系統的光強、體積、面積和數量分佈
• 顆粒系統的Zeta電位及其分佈
• 分子量
• 溶液粘度

界面電位分析儀相關應用

• 高分子、膠體、自組裝膠束、生物大分子、蛋白、多肽、抗原、抗體、奈米金屬/非金屬顆粒的粒徑和分佈
• 聚合過程及反應機制研究
• 聚集與解聚大分子的自組裝等過程的動力學研究
• 系統的溫度趨勢性研究，如熱反應性聚合物PNIPAM
• 奈米級顏料、色料分析

訂購資訊 - 價格報價

• BeNano 90 Zeta奈米粒徑及界面電位測試儀
• BAT-1自動滴定儀(選購)

選購配件

• 可拋棄微量樣品池 40μL ~50μL
• 石英玻璃圓孔樣品池 1 mL –1.5 mL
• 石英微量樣品池 25μL
• 毛細管微量樣品池 3 –5μL