Benano180 Zeta Pro頂級奈米粒徑及界面電位分析儀

Benano180 Zeta Pro頂級奈米粒徑及界面電位分析儀增加了173度角(背向散射)檢測功能

庫存狀況: 預備進貨


產品簡介

BeNano 180 Zeta Pro奈米粒徑電位測試儀是承襲BeNano 90 Zeta奈米粒徑電位測試儀基礎上,再增加173度角(背向散射)檢測樣品顆粒布朗運動造成的散射光強隨時間的波動。BeNano 180 Zeta Pro同樣也集成了動態光散射(DLS)、電泳光散射(ELS)和靜態光散射(SLS)光學系統,用於檢測顆粒的粒徑、Zeta電位及分子量等等參數。

對於濃度較低之樣品,樣品顆粒散射效應較弱,那麼使用90度角檢測即可有極佳的檢測能力,但若對於濃度極高且散射效應非常強的樣品,使用173度角背向散射檢測樣品是較理想的,173度角檢測點固定在樣品池壁附近,雷射光束無需穿透樣品,可有效避免高濃度樣品的多重散射效應,確保高濃度範圍內粒徑結果的準確性和重複性。

產品特色

高性能硬體

  • 固態雷射器- 高功率固態雷射,光束質量高,使用壽命長
  • APD(雪崩二極體)偵測器- 對低濃度或弱散射樣品具有高靈敏度
  • 溫度控制系統- 極廣的溫度範圍(-10~110℃)適合廣泛的應用要求
  • 智能強度調節- 根據樣品的散射能力智能調節強度
  • 靈敏的光纖檢測系統- 提供光學系統的高靈敏度,有效提高信噪比
  • 173度角背向散射檢測光學- 適用於高濃度樣品並提供了更佳的靈敏度

研究級軟體

  • 標準操作程序(SOP)- 確保參數的完整性和準確性
  • 相位分析光散射Phase Analysis Light Scattering (PALS)- 低電泳遷移率和 zeta 電位的測量
  • 智能結果計算方式- 智能估算和處理信號,消除隨機事件的影響
  • 多種計算模式- 多種內置計算模式,覆蓋多個科研應用領域

多功能配件

  • 毛細管微量樣品管-樣品體積低至 3-5 μL,大顆粒樣品測量精度更高
  • 一次性毛細管樣品池-出色的 zeta 電位測量重複性並避免交叉污染

產品應用

學術和製造研發

化學工程材料

製藥

粒徑熱變化寬溫分析

食品和飲料

高階奈米級油墨或奈米顏料分析

生命科學,如蛋白質的熱性能粒徑分析

訂購資訊

Benano180 Zeta Pro頂級奈米粒徑及界面電位分析儀

粒徑檢測:
[粒徑範圍]: 0.3nm~15μm
[樣品量]: 3μL~1 mL
[檢測角度]: 90°及173°
[檢測濃度]: 40% w/v
[分析方法]: Cumulants、通用模式、CONTIN
[靈敏度]: 甲苯 > 30kcps
Zeta電位測試:
[檢測角度]: 12°
[Zata範圍]: 無限制
[電泳遷移率範圍]: > ±20μ.cm/V.s
[電導率範圍]: 260mS/cm(視樣品而定)
[粒徑範圍]: 2nm ~ 110μm (視樣品而定)
[最小樣品量]: 0.75ml
分子量測試:
[分子量範圍]: 342Da ~ 2 x 10E7 Da
趨勢測量:
[模式]: 時間和溫度
黏度測試:
[粘度範圍]: 0.01cp ~ 100cp
[相互作用力因子]: kD
系統參數:
[溫控範圍]: -10°C ~ 110°C +/- 0.1°C
[冷凝控制]: 乾燥空氣or氮氣
[標準雷射光源]: 50mW高性能固態雷射,671nm
[相關器]: 最多4000通道,10E11動態線性範圍
[偵測器]: APD(高性能雪崩式光電二極體)
[光強控制]: 0.0001% ~ 100%,手動或自動
[尺寸重量]: 62.5L x 40W x 24.5H cm (22 kg)
[電源]: 適配器100 ~ 240V, 50/60Hz,200W
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