Bettersizer S2 研究級 雷射粒徑分析儀 Particle Size Analyzer

雷射粒徑分析儀簡介

Bettersizer S2 研究級雷射粒徑分析儀，是一部針對產品研發、科學研究所設計的粒徑測量分析設備，具有高度自動化能力，以及內部光學模組調配能力，讓這部研究級粒度分析儀能夠符合各種研發的需求。

粒徑分析儀光學折射率自動測定

配備獨家專利雙鏡頭技術 Dual Lenses Optical System(DLOS)，同時測量樣品槽前向和後向的散射光來整合運算，並加入小角度散射光和大角度散射光測量原理。它的散射光產生與偵測系統是由一個大功率光纖半導體雷射器、樣品池、兩個高精度的透鏡組和兩組光電偵測器陣列組成。此光學系統能在單光束狀態下使前向和後向散射光信號都能被同時有效接收，同時高精度透鏡組確保了即使是很微弱的散射光信號都能有效地彙聚到偵測器上，使儀器的量程、重複性、準確性和分辨力等主要指標都能達到極高的水準，另外更值得一提的是Bettersizer S2還具有樣品折射率測定功能，透過機器直接量測樣品折射率，就不需要煩惱還要去得知樣品折射率的困擾

粒徑分析儀測量參數

Bettersizer S2測試範圍可高達 20nm～2000μm 的寬闊粒徑範圍，無論是巨觀還是微觀的顆粒尺度分析統計，S2研究級雷射粒徑儀都能勝任。

獨家雙鏡頭技術，同時測量前向與後向的雷射散射光

市面上常規雷射粒徑分析儀，大都是單光束單鏡頭，和多光束多鏡頭兩類。前者結構簡單，價格便宜，但能測的粒徑範圍小，用途受限；後者雖然範圍大，但因為結構複雜，價格過高。Bettersizer S2 是集上述兩種雷射粒徑儀的優點於一體的創新設計，是新技術開發、實驗研究的最佳選擇！

粒徑分析儀操作設計

新一代 Bettersizer S2 粒徑儀，採用全自動樣品微粒分散系統，包括水循環、超音波分散、攪拌、自動進水、自動排水、自動稀釋樣品調整最佳遮光率。測量之後，可執行自動退樣與自動清洗功能。超音波分散器具有激發，和精密音波頻率追蹤偵測技術，頻率和功率穩定，分散效果好，並具有防乾燒設計，即使在樣品迴圈池內沒有水的情況下，啟動超音波分散器也不會燒壞機器，大幅降低超音波分散器的故障率。測量過程，也可以自行定義 SOP，設定程序順序，在全自動的功能之下，開放許多參數設定，讓您能用這部儀器，處理更多種類的材料樣本。

Bettersize 的研發團隊，還分析比較日本、美國、德國大廠品牌的雷射粒徑分析儀的測量結果，不但毫不遜色，更有過之。粒徑的分析結果，比對都在1%差異內，性能價格比超高，這部 Bettersizer S2 並符合 ISO13320 國際標準。

S2雷射粒徑儀特色 

• 具有穩定有效的樣品分散系統。 
• 雷射器、偵測器、信號傳輸系統穩定可靠。
• 自動對焦系統使儀器始終保持在最佳狀態。
• 信號採集速度可達3500次/秒，大量資料可以有效的降低少數異常測量，對再現性的影響。
• 鏡頭採用高精度透鏡組，成像清晰，畸變很小，確保了對微弱、各種角度的散射光信號都能即時採集。
• Bettersize專利的雙鏡頭光學系統，高精度組合透鏡大幅提升了測量精度。
  
• 偵測器數量達90個，解析度更高，加上多功能的操作及分析軟體，無論樣品是單峰、雙峰還是多峰都能準確自動測試。
  
• 完善的樣品進樣系統，包括迴圈、超音波分散、攪拌、自動進水、自動排水和自動清洗。
• 每次測試均透過標準品驗證，確保結果能與標準值一致。
• 軟體可協助使用者了解粒徑分析圖怎麼看
• 軟體語言具有英文及繁體中文

產品應用 

1. 各種非金屬粉末尺寸測量：如石墨、矽灰石、水鎂石、重晶石、雲母粉、膨潤土、矽藻土、黏土、二氧化矽、石榴石、矽酸鋯、氧化鋯、氧化鎂、氧化鋅、重鈣、輕鈣、滑石粉、高嶺土，尺寸評估。
2. 各種金屬粉末：如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等。
   
3. 水泥、河泥、磨料、塗料、染料、陶瓷原料，相關新型建材研究
4. 醫藥、氣喘吸入藥物、食品、農藥、肥料、等全球發展生化材料分析研發
5. 化工材料、奈米材料、造紙填料塗料、高分子材料應用
6. 化妝品、乳液，微米級、奈米級新素材開發。
7. 高科技材料研發：鋰電池材料、觸媒、螢光粉

操作示範

Bettersizer S2 雷射粒徑分析儀 操作示範教學影片

訂購資訊

Bettersizer S2 研究級 雷射粒徑分析儀