Bevision M1 全自動影像粒徑分析儀 Image Scan Particle Analyzer

全自動全景影像 掃描組合

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產品簡介

Bevision M1 全自動影像粒徑分析儀,配備 120 frames/s 的高速攝影機,以最直觀的影像觀測方式,獲得濾紙、濾網相關過濾材料的過濾性能分析。在 Bevision 高性能的顯微光學分析下,將 1um 到 10mm 尺寸的微粒,以高精密電動載台步進控制技術,快速拍攝多幀顯微影像,並透過快速影像無縫接合專利技術,在幾秒鐘到數分鐘的時間內獲得乾溼微粒的全幅影像 (全景圖)。依循 ISO 13322-1:2014 靜態影像粒徑分析方法,獲得樣品的粒徑、孔隙資訊。

儀器是由包括光學顯微鏡、數位CCD、電動載物台、樣品固定裝置、影像處理系統與分析軟體、電腦、印表機等部分組成。

Bevision M1是將傳統的顯微測量方法與現代的影像處理技術結合的產物,它的基本工作流程是將待測樣品放上全自動三維電動載物台,根據您的需要設定樣品的掃描區域、掃描速度、掃描時間等,在掃描的過程中即時的顯示出當前掃描的座標位於整個樣品的位置,利用自動化顯微鏡和相機即時控制,設定曝光時間、影像聚焦、改變物鏡和應用所需的顏色或陰影校正,再透過專用數位像機將顯微鏡的影像拍攝下來,經過USB資料傳輸方式將顆粒影像傳輸到電腦中,及專門的顆粒影像分析軟體對影像進行處理與分析,最後再由顯示器和印表機輸出分析結果。

本系統具有直觀、形象、準確、測試範圍廣以及具有自動定位、自動識別、自動統計等特點,不僅可以用來觀察顆粒形貌,還可以得到粒徑分佈、包含平均長徑比以及長徑比分佈等,並適用於滤紙的殘留顆粒自動化影像分析,為科學研究、生產領域增添了一種新的材料測試利器。

產品特色 

  • 全自動三維載物台根據需要設定樣件的掃描區域、掃描速度、掃描時間等等,在掃描的過程中即時的顯示出當前掃描的座標位於整個樣品的位置。  
  • 即時控制自動化顯微鏡元件和數位相機,使用者還可以設定曝光時間、影像聚焦、改變物鏡和應用所需的顏色或陰影校正。 
  • 影像截取集成在一個簡單的工作流程當中,具有傾斜補償和預測對焦演算法,在掃描過程中確保了對焦影像。無需更多的人為干預。 
  • 功能強大、快速和準確的不限圖框多影像顆粒檢測系統,可執行超過100個標準參數。 
  • 結果可創建一個完整的顆粒分佈圖、最大顆粒的自動採集、物料結果報告、尺寸分類的色彩顆粒顯示,以及整個樣品的顆粒分佈圖。 
  • 符合ISO 4406:1987, ISO 4406:1999, ISO 4407:1991, ISO16232, NF E 48-651, NF E 48-655標準 
  • 結果報告可按照所有已選的標準自動完成,報告內容可以依自己需求定制。 

產品應用 

  1. 濾紙濾網過濾能力全景圖 (panoramic image) 影像分析
  2. 靜態微粒影像分析
  3. 微粒形狀、圓度、縱橫度分析

訂購資訊

Bevision M1 全自動影像粒徑分析儀

[樣品型態]: 懸浮液、乳液、乾粉
[測試範圍]: 1-10000μm
[精度]: ≤1%
[重複性]: ≤1%
[量測時間]: <10min
[CCD]: 500萬像素
[影像處理速度]: 10000pcs/分鐘
[影像放大倍率]: 30-1000倍
[自動分割速度]: <1秒
[測量速度]: <10秒
[分析項目]: 粒徑、長徑比、圓形度分佈及單體顆粒和顆粒群
[介面]: USB2.0或3.0
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