BeVision D1 乾溼粉末粒徑顯微影像分析儀 Powder Imaging

顯微影像粒型與粒徑分佈統計雙重分析

庫存狀況: 現貨供應中


產品簡介

BeVision D1是一部數位顯微影像 粒型、粒徑分析儀,是依循 ISO 13322-1:2014 與 ISO 13322-2:2006 規範所設計的粒徑分析儀。它以高速攝影機智慧影像測量分析軟體,以專利獨家的智慧影像辨識技術,從微觀的角度,快速測量出樣品每一顆微粒的粒度 (真實粒徑)與微粒的形狀,最後以統計分析方法,從巨觀的角度獲得樣品的粒徑分佈結果。過程中,BeVision D1 的軟硬體,皆以高度平行運算處理,以每秒鐘辨識測量一萬顆微粒的速度,高速識別測量每一顆微粒的外型、粒徑、圓度,並獲得穩定準確的測量結果。

BeVision D1 可以執行乾式濕式粒徑分析。乾式分析主要針對那些顆粒較大的粉末樣品,拜 BeVision D1 優秀的顯微光學設計之賜,放大倍率可從 9x 到 300x,讓乾式分析的粉末粒徑上限,達到10mm 毫米等級的大顆粒 (最小可達 30um)。而用於濕式分析時,則可以測量小到 2um 微米級尺寸的微粒。

Excellent Micro Magnification System

優越的顯微放大、影像處理辨識能力

BeVision D1 能涵蓋 2um 到 10mm 這樣寬廣範圍的粒徑量測,適用於各式高級粉末、微粒材料的研發分析、製造、以及相關新材料的應用。

產品特色

  • 智慧影像辨識測量軟體,每分鐘可處理高達 10,000 個微粒。並能夠自動識別團聚粉末的影像,獲得精準的測量結果
  • 分析樣品的粒度分佈,最大粒徑,長寬比,圓度、半徑/厚度比
  • 裝置每秒120幅影像 (FPS 120) 高階高速攝影機。高感度的感光元件能以極短的曝光時間,避免殘影現象而造成影像誤判。
  • 配備乾式、濕式雙系統取樣器,乾式分析時以電磁振動進料,並利用重力分散,團聚的樣品顆粒。濕式分析則是以外循環分散系統,以超音波分散與離心循環同步均勻分散樣品微粒。

應用領域

新粉末材料研發,研磨劑,半導體基板之微蝕刻,化學清洗劑,化妝品,食品添加劑,以及各種毫米級 (mm) 到微米級 (um) 的顆粒材料分析。

訂購資訊

BeVision D1 乾式、濕式高速顯微影像粒徑分析儀

[適用樣品]: 懸浮液,乳液,乾粉
[相機]: 120 FPS 高速CCD攝影機
[平均測量時間]: <10分鐘 (時間與平均值穩定度有關)
[測量速度]: 10,000 微粒/分鐘
[粒徑可測範圍]: 濕式 2um -3.5 mm,乾式 30um - 10mm
[準確度]: ≦1% (GBRM D50)
[再現性]: ≦1% (GBRM D50)
[顯微放大倍率]: 9x - 300x
[PC 連線介面]: USB 2.0
[作業系統]: Windows 10,8,7,XP
[電腦配備需求]: i7 2600或以上CPU,4Gb以上記憶體(分析速度與PC性能高度相關)
[電源]: AC 220V@60Hz
[儀器尺寸LxWxH]: 610mm x 300mm x 440mm
[重量]: 26kg
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