X射線光譜儀繞射儀 XRF XRD

X射線螢光光譜儀 (XRF, X-ray Fluorescence)，是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。它利用X光或其他激發源照射待分析樣品，樣品元素的內層電子被擊出後，造成核外電子的躍遷，當被激發的電子返回基態時，放射出特徵 X 光；檢測器(Detector) 探測出不同元素的特徵 X 光的波長特性，以辨識出樣品屬性。XRF 特別適合研究金屬，玻璃，陶瓷和建築材料，以及在地球化學研究、法醫學、電子產品進料品管（EU RoHS）和考古學等領域。

X光繞射儀 (XRD, X-ray Diffraction)，是現今檢測物質的晶體結構，以及測量原子間距，所常用的儀器技術。它常被用來檢測金屬、或特定物質的組成成分與變異。 X射線衍射儀，內部有一支X光陰極射線管，通過加熱射線管所產生的電子，並通過電場加速，朝向目標電子，並與電子轟擊靶材料。當電子具有足夠的能量，以撞出靶材料的內層電子，便產生X光特徵譜線。透過測量特徵譜線，來了解樣品的成分。勢動科技所代理的專用 XRD 儀器，比實驗室常見的通用 XRD 儀器，具有更好的針對性與精確性，適合需要更高可靠度、重複操作的相關應用。