產品簡介

殘餘奧氏體 (Retained Austenite)，亦稱為殘留奧氏體。它是一個基體組成相，也是一個不穩定相。金屬在載荷作用下，極易產生轉變而產生相變應力。殘餘奧氏體增多，會造成基體硬度降低，並削弱基體抗切削能力，使耐磨性降低。

金屬中的奧氏體殘留

對於金屬中奧氏體轉變的動力學研究，也可用熱示差掃描量熱儀 (DSC) 之類的分析儀器。然而對於一般工廠、金屬安全性檢測、事故調查，等等這些應用，GNR 的  ARE X 奧氏體檢測繞射儀，是專門為偵測奧氏體所設計的特殊X射線繞射儀。這部儀器比泛用型的X射線繞射儀，更能精準定量金屬中的殘留奧氏體，降低繞射儀「優選方位 (優選方向)效應」 (Preferred Orientation) 的影響。

ARE X 採用固定角度的設計、以及最先進的X光繞射技術。在奧氏體的檢測範疇，無論精準度、安全性、和操作便利性，都不是其他泛用型繞射儀器能夠比擬。

ARE X 同時偵測四個繞射峰值的積分強度，包含兩個奧氏體 (ɣ-Fe) 的繞射峰值 ɣ 220、ɣ 311，以及兩個肥粒鐵 (純鐵，鐵素體，α-Fe) 的繞射峰值 α 200、α 211。AREX 奧氏體檢測專用繞射儀，採用多組繞射峰值，可降低繞射儀優選方位影響，並能夠偵測碳化物干擾。 相較於通用繞射儀，能夠提供更準確的結果。(儀器本身可一次偵測7個峰值，四個奧氏體，三個肥力鐵，目前僅使用四個)

AREX 採用四個峰值偵測，提高定量準確度

AREX 完全符合 ASTM E975-03 奧氏體標準檢測方法的規定，而且更進一步簡化測試方法。使用 GNR 提供的專業軟體，Austenite只要按下啟動按鈕，殘留奧氏的體積比率，便可在數分鐘內被精準量測出來。

產品特色

• 儀器為奧氏體檢測所專門設計的X光繞射儀 
  
• 同時偵測四組繞射峰值，奧氏體 ɣ 220、ɣ 311 肥粒鐵 α 200、α 211
  
• X光激發器 3000W 高輸出功率，並可產生精準電壓電流步階升降
• 鉬靶X光管，並配置毛細準直鏡 
  
• 操作簡單，軟體可提供豐富的測量資訊 
  

產品應用

透過X射線繞射，對熱處理鋼的殘留奧氏體含量，執行定量測試，並於生產過程中控制金屬性能，同時確保產品品質的可靠性、與一致性。

X射線繞射儀，是公認最精準的儀器，應用在測量鋼的殘留奧氏體，而 AREX 更進一步提高測量的可靠度。

ARE X 簡化殘留奧氏體的檢測過程，並且完全依照 ASTM E975-03 的標準方法。

訂購資訊

AREX 繞射儀 偵測、定量金屬中的奧氏體專用儀器