APD 2000 PRO 落地型X光繞射儀 XRD
APD 2000 PRO 高速高能量落地型X光繞射儀
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現貨
標準交期:
8 週
產品簡介
GNR 的 APD 2000 PRO 高能量X光繞射儀，是一部高能量的繞射儀，X光產生器達 3000W (還能選配更高4000W 能量的X射線產生器)。它採用目前世界上最精密的繞射一技術，保證量測的精密度、安全性、以及簡便的操作性能。
APD 2000 PRO 除一般的偵測器外，還可裝置 Multi Strip 或 YAP:Ce 高速偵測器，讓 APD 2000 PRO 能以高速進行量測。此外，儀器中的瞬閃計數器、次級單色器，旋轉儀，多樣品槽的設計，以及可控制溫度、控制濕度的樣品箱，讓 APD 2000 PRO 成為一部功能強大的儀器，讓這部儀器比它牌儀器，更適合處理複雜的粉末繞射分析相關應用。尤其在速度上 (每分鐘可測量 1000°) 與精密度 (再現性 +/- 0.0001°) 上，可提供極精確的角度值，以及非常可靠的測量數據。
APD 2000 PRO 可用於：定性與定量與晶相分析，非結晶物質的結晶度的分析，同素異形體篩選，晶胞參數，晶粒尺寸和晶格應變的測定，特維德精算 (Rietveld Refinement) 結構特徵。
產品特色
- 定性和定量的晶相分析，結晶度計算，晶體參數、晶體尺寸和晶格應變監測
- 高穩定的X光產生器，具備精密的回授控制電路，精密控制X射線能量
- 可根據預設值，以梯度產生高電壓與發射電流
- 可以安裝玻璃或陶瓷材質的X射線管，具有高再現性和穩定的聚焦位置
- 配備微聚焦管與多光束準直器
- 可設置自動由穿透模式轉變為反射模式
- 由光學尺回授控制的高速、高精密角度儀
- 有多種樣品槽可選擇：傳統式單一樣品槽、多樣品槽、可轉動樣品槽多樣品槽
- 可配備閃爍計數器、矽微線偵測器
- 可設置溫溼度控制設備，執行環境條件模擬測試
產品應用
定性和定量分析，非常態分析，殘留奧氏體定量分析，結構解析和細化，晶粒尺寸和結晶度的計算。
地質學 礦物學 粘土
玻璃 陶瓷 水泥
化工 石化
催化劑 聚合物
法醫採證
農業科學
生物科學
環境科學
製藥
化妝品
藝術與考古
汽車、航太工業
電子：化合物半導體、資料存儲、顯示器、工業產品、照明設備、光子領域、聚合物、半導體、光電太陽能
訂購資訊
APD 2000 PRO 高能量落地型繞射儀
Rigaku XtaLAB mini II
| X光產生器 | |
|---|---|
| [最大輸出功率]: | 3 kW (選配：4 kW) |
| [輸出穩定性]: | < 0.01 % (for 10% power supply fluctuation) |
| [最大輸出電壓]: | 60 kV |
| [最大輸出電流]: | 60 mA (選配：80 mA) |
| [電壓輸出步階]: | 0.1 kV |
| [電流輸出步階]: | 0.1 mA |
| [漣波]: | 0.03% rms < 1kHz, 0.75% rms > 1kHz |
| [預熱與電流梯度輸出]: | Automatic preheat and ramp control circuit |
| [輸入電壓]: | 220 Vac +/-10%, 50 or 60 Hz, single phase |
| [尺寸]: | Width 48.3 cm, height 13.3 cm, depth 56 cm |
| X光管 | |
| [種類]: | Glass (option |
| [聚焦]: | 0.4 x 12 mm LFF (other options available) |
| [最大輸出功率]: | 3.0 kW |
| 量角器 | |
| [形式]: | 水平與垂直 Theta/2Theta geometry |
| [旋轉直徑]: | 350 - 400 mm |
| [垂直掃描角度範圍]: | - 60° < 2 Theta < + 168° (according to accessories) |
| [水平掃描角度範圍]: | - 110° < 2 Theta < + 168° (according to accessories) |
| [最小角度步階]: | 0.0001° |
| [角度再現姓]: | +/- 0.0001° |
| [操作模式]: | Continuous scan, step scan, theta or 2 theta scan, fast scan, theta axis oscillation |
| [可調式狹縫 Divergence]: | 0 - 4° |
| [可調式狹縫 Anti-Divergence]: | 0 - 4° |
| [可調式狹縫 Receiver]: | 0 - 4° |
| [Soller 狹縫]: | 2° |
| 偵測器 | |
| [形式]: | Scintillation counter Nal (options |
| [計數器]: | 2 x 10(6) cps (Nal); 2 x 10(7) cps (Yap(Ce)) |
| 儀器外部箱體 | |
| [尺寸]: | Width 850 mm, heigh 1680 mm, depth 750 mm |
| [輻射洩漏安全值]: | < 1 mSv/Year (full safety shielding according to the international guidelines) |
| 資料處理功能 | |
| [基本資料處理功能]: | Polynomial least squares smoothing. Fourier smoothing. Search for Peaks (automatic and manual). Spline background subtraction. Single peak analysis (area, FWHM, centroid, background). Marquardt fit (with pseudo-Voigt and Pearson VII curves, Ka2 contribution, weighted sum of squares). Sum and multiply by a constant. Scale normalization. Zoom. Graphical windows. Overlap and comparison of diffractograms. Multiview function. Cursor scan. Creation of graphic files .BMP. ICDD-PDF2 Card Overlap. Creation of calibration curves. Analysis of unknown samples. Qualitative and quantitative phase analysis. Rietveld analysis, crystalline structural analysis, crystallite size and lattice strain, crystallinity calculation |
