粒徑分析儀 粒度分析儀

雷射光繞射法 (Laser Diffraction) 是當今測量微粒粉末尺寸粒度最有效快速的方法,廣泛地被應用在粒徑的測量上。雷射粒徑分析儀原理,是利用雷射光照射一群微粒後,會產生光繞射的現象(米氏散射 Mie Scattering,亦即顆粒越大,在雷射光束行進方向,會產生較小角度、較為聚焦的繞射,反之,顆粒越小,則會產生較大角度、且焦點模糊的繞射)。然後透過測量散射程度 與統計學方法,來獲得受測樣品的粒度分佈值。

當然,實際粒度分析儀的設計,要比上述的測量儀原理複雜的多,除了發射雷射光束前,需要盡可能地均勻分散微粒之外,測量的時候,還得輔以其他量測技術,測得樣品的粒徑尺度 (D10,D50,D90)、PDI 分佈值。

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